產(chǎn)品規(guī)格︰   *平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。產(chǎn)品規(guī)格：每組平行平晶共四塊，分四個(gè)尺寸系列組測量面上平面度偏差： <0.1μm平面度局部偏差： 　  >0.03μm測量面平行度誤差：  組Ⅰ系列允差值：0.06μm                    組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm                    組Ⅳ系列允差值：0.1μm 組Ⅰ 平行平晶 0－25mm 4塊/組 組Ⅱ 平行平晶 25－50mm 4塊/組 組Ⅲ 平行平晶 50－75mm 4塊/組 組Ⅳ 平行平晶 75－100mm 4塊/組 平行平晶尺寸系列表 組號 0－25 25－50 50－75 75－100 1 15.00，15.1215.25，15.39 40.00，40.1240.25，40.37 65.00，65.1265.25，65.37 90.00，90.1290.25，90.37 2 15.12，15.2515.37，15.50 40.12，40.2540.37，40.50 65.12，65.2565.37，65.50 90.12，90.2590.37，90.50 3 15.25，15.3715.50，15.62 40.25，40.3740.50，40.62 65.25，65.3765.50，65.62 90.25，90.3790.50，90.62 4 15.37，15.5015.62，15.75 40.37，40.5040.62，40.75 65.37，65.5065.62，65.75 90.37，90.5090.62，90.75 5 15.50，15.6215.75，15.87 40.50，40.6240.75，40.87 65.50，65.6265.75，65.87 90.50，90.6290.75，90.87 6 15.62，15.7515.87，16.00 40.62，40.7540.87，41.00 65.62，65.7565.87，66.00 90.62，90.7590.87，91.00