一種可以同時測量反射率、透射率的光學薄膜測厚儀 產品特征 · 易于安裝· 基于視窗結構的軟件，很容易操作· 先進的光學設計，以確保能發(fā)揮出較佳的系統(tǒng)性能· 基于陣列設計的探測器系統(tǒng)，以確?？焖贉y量· 獨特的光源設計，有著較好的光源強度穩(wěn)定性· 較多可測量5層的薄膜厚度和折射率· 在毫秒的時間內，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數 · 能夠用于實時或在線的厚度、折射率測量· 系統(tǒng)配備大量的光學常數數據及數據庫· 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用先進的軟件功能選擇使用NK數據庫、也可以進行色散或者復合模型（EMA）測量分析； · 可升級至MSP（顯微分光光度計）系統(tǒng)，SRM成像系統(tǒng)，多通道分析系統(tǒng)，大點測量。· 通過模式和特性結構直接測量。· 提供的各種配件可用于特殊結構的測量，例如通過曲線表面進行縱長測量。· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數據管理界面。 系統(tǒng)配置 型號：SRT100檢測器：雙通道CCD陣列的每個像素2048光源：氘燈和高功率鹵素燈光傳輸：光纖載物臺：黑色鋁合金樣品測量平臺輕松調整高度，100mmx100mm尺寸通訊：USB測量類型：薄膜厚度，反射光譜，透射光譜，折射率軟件：TFProbe 2.3電腦需要：常規(guī)配置電源：110 - 240伏交流電/ 50 - 60Hz的，1.5A保修：1年 規(guī)格波長范圍：250nm到1100 nm光斑尺寸：500μm至5mm樣品尺寸：100mmx100mm基板尺寸：較多可至50毫米厚測量厚度范圍*：5nm-50μm測量時間：較快2毫秒 準確度：優(yōu)于0.5％（通過使用相同的光學常數，讓橢偏儀的結果與熱氧化物樣品相比較）重復性誤差*：小于1A     應用: 半導體制造（PR，Oxide, Nitride..) 液晶顯示（ITO，PR，Cell gap... ..） 醫(yī)學，生物薄膜及材料領域等油墨，礦物學，顏料，調色劑等醫(yī)藥，中間設備光學涂層，TiO2, SiO2, Ta2O5... .. 半導體化合物在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜非晶體，納米材料和結晶硅